AFM5000Ⅱ 

仕様

一般名：　走査型プローブ顕微鏡　SPM　(原子間力顕微鏡　AFM)
メーカー名：　株式会社 日立ハイテクサイエンス
制御部型番：　AFM5000Ⅱ
ステージ部型番：　AFM5100N
注意事項：
　　試料をカンチレバーに近づける際には目を離さないでください。
スキャナ型式：　FS-150N
移動量：　150μm
測定範囲：　500nm, 1μm, 2μm, 5μm, 10μm, 20μm, 50μm, 100μm四方から選択
分解能：　測定範囲の512分の1　（x方向は512分の1固定、y方向は最大512分の1）
垂直：　5μm
プローブホルダ：　自己検知ホルダ
プローブ（カンチレバー）：　PRC-DF40P（センサー内蔵型レバー）
測定モード：　DFM（カンチレバーを加振する測定モード）なお、PM（位相測定）を含む

カンチレバー購入先

カンチレバーは高価なので、使用する研究室で準備をお願いいたします。
例えば下記で購入できます。
自己検知用センサー内蔵型カンチレバー
PRC-DF40P　（10本入）　定価 約10万円
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株式会社 新興精機　東京営業所　廣瀬亮太様
住所　〒113-0033
　　　東京都文京区本郷2-25-5 角地???2F
TEL　03-5805-3966 FAX　03-5805-3967
E-mail: hirose@shinkouseiki.co.jp
URL: http://shinkouseiki.co.jp/
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測定例